High-frequency enhanced electrochemical strain microscope and high-frequency enhanced electrochemical strain microscopy using same
WO2022137543
Art A1
30. Juni 2022
Anmelder: TOHOKU UNIVERSITY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022137543
- Aktenzeichen
- EP20967029
- Anmeldetag
- 25. Dezember 2020
- Veröffentlichung
- 30. Juni 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01Q30/00G01Q60/24G01Q60/60
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOHOKU UNIVERSITY
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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Fachgebiete
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