Methods and systems for single-event upset fault injection testing
WO2022150177
Art A1
14. Juli 2022
Anmelder: RAYTHEON COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022150177
- Aktenzeichen
- EP21852098
- Anmeldetag
- 17. Dezember 2021
- Veröffentlichung
- 14. Juli 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/3185G01R31/3181
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- RAYTHEON COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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