Systems and methods for measuring intensity in a lithographic alignment apparatus
WO2022157009
Art A1
28. Juli 2022
Anmelder: ASML HOLDING N.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022157009
- Aktenzeichen
- EP22700060
- Anmeldetag
- 4. Januar 2022
- Veröffentlichung
- 28. Juli 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML HOLDING N.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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