Inspection management system, inspection management device, inspection management method, and program

WO2022157995 Art A1 28. Juli 2022

Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022157995
Aktenzeichen: EP21921102
Anmeldetag: 8. März 2021
Veröffentlichung: 28. Juli 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G05B19/418G01N23/083H05K3/34H05K13/00H05K13/08G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: OMRON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

6.711 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik

Vertreten von