An apparatus for testing a component, a method of testing a component, a computer program for implementing this method and a test arrangement using a magnetic field
WO2022161629
Art A1
4. August 2022
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022161629
- Aktenzeichen
- EP21702492
- Anmeldetag
- 29. Januar 2021
- Veröffentlichung
- 4. August 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319G01R31/3187G01R31/3185G01R33/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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