An integrated circuit, an apparatus for testing an integrated circuit, a method for testing an integrated circuit and a computer program for implementing this method using magnetic field
WO2022161631
Art A1
4. August 2022
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022161631
- Aktenzeichen
- EP21702494
- Anmeldetag
- 29. Januar 2021
- Veröffentlichung
- 4. August 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/3185G01R31/3187G01R31/319G01R33/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.