Defect inspection method and defect inspection device

WO2022163381 Art A1 4. August 2022

Anmelder: SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022163381
Aktenzeichen: EP22745606
Anmeldetag: 14. Januar 2022
Veröffentlichung: 4. August 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01N21/958

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sumitomo Chemical

Japanischer Chemiekonzern mit Sitz in Tokio, Teil der Sumitomo-Gruppe. Aktiv in Petrochemie, Agrochemie, Pharmazeutika, Elektronikmaterialien, Energiematerialien und Kunststoffen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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