Image inspection device, image inspection method, and trained model generation device

WO2022172475 Art A1 18. August 2022

Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022172475
Aktenzeichen: EP21925724
Anmeldetag: 12. März 2021
Veröffentlichung: 18. August 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: OMRON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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