Optical measurement apparatus including universal metasurface, and optical measurement method using same

WO2022173240 Art A2 18. August 2022

Anmelder: KOREA ADVANCED INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022173240
Aktenzeichen: EP22753000
Anmeldetag: 10. Februar 2022
Veröffentlichung: 18. August 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01J1/04G01J4/00G01J9/02G01B9/02G02B21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: KOREA ADVANCED INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 KAIST

Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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