Defect detection method and apparatus, and electronic device
WO2022179012
Art A1
1. September 2022
Anmelder: GOERTEK INC. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022179012
- Aktenzeichen
- EP21927444
- Anmeldetag
- 24. Juni 2021
- Veröffentlichung
- 1. September 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- GOERTEK INC.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Goertek
Chinesischer Elektronikhersteller mit Sitz in Weifang, spezialisiert auf akustische Komponenten, Mikrofone und Zulieferteile für Unterhaltungselektronik.
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