Operating a metrology system, lithographic apparatus, and methods thereof
WO2022184375
Art A1
9. September 2022
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V., ASML HOLDING N.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022184375
- Aktenzeichen
- EP22703644
- Anmeldetag
- 3. Februar 2022
- Veröffentlichung
- 9. September 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F1/84G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ASML NETHERLANDS B.V.
ASML HOLDING N.V. - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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