Systems and methods for inspection of ic devices

WO2022187464 Art A1 9. September 2022

Anmelder: BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022187464
Aktenzeichen: EP22764039
Anmeldetag: 3. März 2022
Veröffentlichung: 9. September 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00G01N21/00G01R31/28G01R31/309

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Battelle Memorial Institute

Gemeinnützige US-amerikanische Forschungsorganisation mit Sitz in Columbus, Ohio, die angewandte Forschung und Entwicklung in Technik, Energie und Materialwissenschaften betreibt.

1.322 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von