Measuring apparatus and method for roughness and/or defect measurement on a surface

WO2022189250 Art A1 15. September 2022

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022189250
Aktenzeichen: EP22710554
Anmeldetag: 3. März 2022
Veröffentlichung: 15. September 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/30H01L21/67H01L21/68H01L21/683G01N21/47G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML NETHERLANDS B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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