Inspection system, inspection management device, inspecting method, and program
WO2022190654
Art A1
15. September 2022
Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022190654
- Aktenzeichen
- EP22766622
- Anmeldetag
- 19. Januar 2022
- Veröffentlichung
- 15. September 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/24G01B15/04G01B21/20H05K13/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- OMRON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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Vertreten von
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