Measuring wafer comprising sensor and method for using same
WO2022190771
Art A1
15. September 2022
Anmelder: EBARA CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022190771
- Aktenzeichen
- EP22766736
- Anmeldetag
- 14. Februar 2022
- Veröffentlichung
- 15. September 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B24B49/10B24B37/005B24B37/10H01L21/304
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- EBARA CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Ebara
Japanischer Hersteller von Pumpen, Kompressoren und Umwelttechnik mit Sitz in Tokio, gegründet 1912.
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Vertreten von
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