Thickness measurement device

WO2022195964 Art A1 22. September 2022

Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, TOSHIBA INFRASTRUCTURE SYSTEMS & SOLUTIONS CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2022195964
Aktenzeichen
EP21931707
Anmeldetag
24. November 2021
Veröffentlichung
22. September 2022
Rechtsraum
WO
IPC
G01B15/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
TOSHIBA INFRASTRUCTURE SYSTEMS & SOLUTIONS CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Toshiba

Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.

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