Grade assessment device, opthalmic imaging device, program, recording medium and grade assessment method
WO2022196583
Art A1
22. September 2022
Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022196583
- Aktenzeichen
- EP22771331
- Anmeldetag
- 11. März 2022
- Veröffentlichung
- 22. September 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- A61B3/10A61B3/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOPCON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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