Noise-compensated jitter measurement instrument and methods

WO2022197739 Art A1 22. September 2022

Anmelder: TEKTRONIX, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022197739
Aktenzeichen: EP22772088
Anmeldetag: 15. März 2022
Veröffentlichung: 22. September 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/317G01R19/25

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: TEKTRONIX, INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Tektronix, Inc.

US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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