Semiconductor structure and manufacturing method therefor

WO2022198886 Art A1 29. September 2022

Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2022198886
Aktenzeichen
EP21932498
Anmeldetag
12. August 2021
Veröffentlichung
29. September 2022
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/3213H01L21/033G03F1/36G03F1/38G03F1/68H01L21/8239H01L27/105H01L21/311G03F1/72
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637 Patente in unserer Datenbank

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