Scanning probe microscope, sample observation and treatment system, and electrical-characteristics evaluation device

WO2022201478 Art A1 29. September 2022

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022201478
Aktenzeichen: EP21933083
Anmeldetag: 26. März 2021
Veröffentlichung: 29. September 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01Q80/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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