Ray inspection device, and method for inspecting target
WO2022206101
Art A1
6. Oktober 2022
Anmelder: TSINGHUA UNIVERSITY, NUCTECH COMPANY LIMITED 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022206101
- Aktenzeichen
- EP22778290
- Anmeldetag
- 11. Januar 2022
- Veröffentlichung
- 6. Oktober 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G21F3/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TSINGHUA UNIVERSITY
NUCTECH COMPANY LIMITED - Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Tsinghua University
Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.
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🇨🇳
Nuctech
Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.
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