Inspection method, inspection device, manufacturing method, and manufacturing device for light wavelength conversion sheet, light wavelength conversion sheet, backlight device, liquid crystal panel, and liquid crystal display device

WO2022210509 Art A1 6. Oktober 2022

Anmelder: FUJIFILM CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022210509
Aktenzeichen: EP22780720
Anmeldetag: 28. März 2022
Veröffentlichung: 6. Oktober 2022
Rechtsraum: WO
IPC: C09K11/00H01L33/50F21V9/00G01M11/00G01N21/892G02B5/20

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: FUJIFILM CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

21.764 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Farben, Klebstoffe & Brennstoffe Halbleiter & Elektrische Bauelemente Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von