Nondestructive inspecting device
WO2022211068
Art A1
6. Oktober 2022
Anmelder: TOPCON CORPORATION, RIKEN 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022211068
- Aktenzeichen
- EP22781278
- Anmeldetag
- 31. März 2022
- Veröffentlichung
- 6. Oktober 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TOPCON CORPORATION
RIKEN - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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