Loop iteration calibration method and test device using same

WO2022213877 Art A1 13. Oktober 2022

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2022213877
Aktenzeichen
EP22783944
Anmeldetag
31. März 2022
Veröffentlichung
13. Oktober 2022
Rechtsraum
WO
IPC
G01R35/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇨🇳 China
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

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