Mirror for performing metrology in a laser beam system, laser beam system, euv radiation source and lithographic apparatus
WO2022214288
Art A1
13. Oktober 2022
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022214288
- Aktenzeichen
- EP22711566
- Anmeldetag
- 16. März 2022
- Veröffentlichung
- 13. Oktober 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G01J1/42G02B5/08H01S3/00H05G2/00H01S3/223
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML NETHERLANDS B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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Vertreten von
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