Metrology systems, measurement of wear systems and methods thereof
WO2022214392
Art A1
13. Oktober 2022
Anmelder: ASML HOLDING N.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022214392
- Aktenzeichen
- EP22718988
- Anmeldetag
- 31. März 2022
- Veröffentlichung
- 13. Oktober 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML HOLDING N.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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