Method, apparatus and device for detecting multi-scale appearance defects of ic package carrier plate, and medium

WO2022227424 Art A1 3. November 2022

Anmelder: South China University Of Technology 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022227424
Aktenzeichen: EP21938887
Anmeldetag: 20. Oktober 2021
Veröffentlichung: 3. November 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01N21/84

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: South China University Of Technology
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 South China University of Technology

Chinesische Universität mit Sitz in Guangzhou, die als Anmelderin von Patenten aus ihrer technischen und naturwissenschaftlichen Forschung auftritt. Schwerpunkte liegen unter anderem in Materialwissenschaft und Maschinenbau.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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