Method for determining a stochastic metric relating to a lithographic process

WO2022233546 Art A1 10. November 2022

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022233546
Aktenzeichen: EP22722498
Anmeldetag: 12. April 2022
Veröffentlichung: 10. November 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/20G06N20/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML NETHERLANDS B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

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