Messanordnung und Verfahren zur Vermessung der Oberflächenform eines Optischen Elements
WO2022243015
Art A1
24. November 2022
Anmelder: CARL ZEISS SMT GMBH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022243015
- Aktenzeichen
- EP22726682
- Anmeldetag
- 29. April 2022
- Veröffentlichung
- 24. November 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B9/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CARL ZEISS SMT GMBH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss SMT
Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.
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