Silicon single crystal ingot evaluation method, silicon epitaxial wafer evaluation method, silicon epitaxial wafer manufacturing method, and silicon mirror surface wafer evaluation method
WO2022244304
Art A1
24. November 2022
Anmelder: SUMCO CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022244304
- Aktenzeichen
- EP22804227
- Anmeldetag
- 20. Januar 2022
- Veröffentlichung
- 24. November 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C30B29/06C30B25/20H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SUMCO CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sumco
Sumco ist ein japanischer Hersteller von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.
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