Verfahren zum Abscheiden einer Epitaktischen Schicht auf einer Substratscheibe aus Halbleitermaterial in einer Abscheidevorrichtung

WO2022253533 Art A1 8. Dezember 2022

Anmelder: SILTRONIC AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2022253533
Aktenzeichen
EP22728584
Anmeldetag
11. Mai 2022
Veröffentlichung
8. Dezember 2022
Rechtsraum
WO
IPC
C30B25/12C23C16/458C23C16/52C30B25/16H01L21/67C30B25/10C30B29/06C30B25/20
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
SILTRONIC AG
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Siltronic

Deutscher Halbleiterzulieferer mit Sitz in München. Siltronic stellt hochreine Siliziumwafer für die Chip- und Elektronikindustrie her.

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