A system and a method for detecting and characterizing a defect in an object using guided wave inspection

WO2022259262 Art A1 15. Dezember 2022

Anmelder: INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY MADRAS (IIT MADRAS) 🇮🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022259262
Aktenzeichen: EP22819774
Anmeldetag: 13. Mai 2022
Veröffentlichung: 15. Dezember 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01N29/04G01N29/46

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY MADRAS (IIT MADRAS)
Land: 🇮🇳 Indien

🇮🇳 Indian Institute of Technology Madras (iit Madras)

Das Indian Institute of Technology Madras (IIT Madras) ist eine der führenden staatlichen technischen Hochschulen Indiens mit Sitz in Chennai. Das Patentportfolio verteilt sich breit über Nachrichtentechnik, Mess- und Prüftechnik sowie Software, ergänzt um Medizintechnik und anorganische Chemie. Die Anmeldungen aus den Jahren 2018 bis 2025 spiegeln ein interdisziplinäres Forschungsprofil von Wasserstofftechnologie bis Bioinformatik wider.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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