Semiconductor substrate production method and composition for forming resist underlayer film

WO2022259885 Art A1 15. Dezember 2022

Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2022259885
Aktenzeichen
EP22820067
Anmeldetag
27. Mai 2022
Veröffentlichung
15. Dezember 2022
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/11C08F220/10G03F7/20
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
JSR CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JSR Corporation

JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.

2.270 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen