Preparation method for semiconductor structure, semiconductor structure, and capacitor structure

WO2023000373 Art A1 26. Januar 2023

Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2023000373
Aktenzeichen
EP21950619
Anmeldetag
30. Juli 2021
Veröffentlichung
26. Januar 2023
Rechtsraum
WO
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

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