System and method for resolution improvement of charged particles microscopy

WO2023002480 Art A1 26. Januar 2023

Anmelder: TECHNION RESEARCH&DEVELOPMENT FOUNDATION LIMITED 🇮🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023002480
Aktenzeichen: EP22845563
Anmeldetag: 19. Juli 2022
Veröffentlichung: 26. Januar 2023
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/26H01J37/06H01J37/073H01J37/22H01J37/04

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: TECHNION RESEARCH&DEVELOPMENT FOUNDATION LIMITED
Land: 🇮🇱 Israel

🇮🇱 Technion Research & Development Foundation Ltd.

Israelische Technologietransfer-Organisation des Technion (Israel Institute of Technology), zuständig für Patentierung und Kommerzialisierung von Forschungsergebnissen. Sitz in Haifa, Israel.

802 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von