Charged particle beam device and sample analysis method

WO2023007608 Art A1 2. Februar 2023

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023007608
Aktenzeichen: EP21951815
Anmeldetag: 28. Juli 2021
Veröffentlichung: 2. Februar 2023
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/20H01J37/244H01J37/252

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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