Composition for forming resist underlayer film, method for manufacturing semiconductor substrate, and method for forming resist underlayer film
WO2023008149
Art A1
2. Februar 2023
Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023008149
- Aktenzeichen
- EP22849214
- Anmeldetag
- 8. Juli 2022
- Veröffentlichung
- 2. Februar 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/11C08F212/14C08F220/12H01L21/027
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JSR CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JSR Corporation
JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.
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