Fine particle measurement device and fine particle measurement method
WO2023008580
Art A1
2. Februar 2023
Anmelder: THE UNIVERSITY OF TOKYO 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023008580
- Aktenzeichen
- EP22849640
- Anmeldetag
- 29. Juli 2022
- Veröffentlichung
- 2. Februar 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N15/14G01N21/47G01N21/53G01N37/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- THE UNIVERSITY OF TOKYO
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
University of Tokyo
Japanische Universität mit Sitz in Tokio, eine der führenden Forschungsuniversitäten Asiens. Die Universität ist in nahezu allen wissenschaftlichen und technischen Disziplinen aktiv, darunter Materialwissenschaften, Elektrotechnik, Biotechnologie und Medizin.
3.350 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.