Apparatus and method for detecting subsurface defect of optical element

WO2023010617 Art A1 9. Februar 2023

Anmelder: ZHEJIANG UNIVERSITY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023010617
Aktenzeichen: EP21952487
Anmeldetag: 19. August 2021
Veröffentlichung: 9. Februar 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/95G01N21/958

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ZHEJIANG UNIVERSITY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Zhejiang University

Chinesische Universität mit Sitz in Hangzhou, eine der führenden Forschungshochschulen Chinas mit breitem Fächerspektrum einschließlich Ingenieurwissenschaften und Materialforschung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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