Measurement system, measurement device, measurement data processing method, and measurement data processing program
WO2023013099
Art A1
9. Februar 2023
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023013099
- Aktenzeichen
- EP22852528
- Anmeldetag
- 24. Januar 2022
- Veröffentlichung
- 9. Februar 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- A61B5/107A61B5/11
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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