Full-field metrology tool for waveguide combiners and meta-surfaces
WO2023018554
Art A1
16. Februar 2023
Anmelder: APPLIED MATERIALS, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023018554
- Aktenzeichen
- EP22856416
- Anmeldetag
- 28. Juli 2022
- Veröffentlichung
- 16. Februar 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01M11/04G01M11/02G02B27/14G02B27/28G02B26/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- APPLIED MATERIALS, INC.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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