Aberration measurement system and aberration measurement method for optical imaging lens

WO2023019826 Art A1 23. Februar 2023

Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology, Chinese Academy of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023019826
Aktenzeichen: EP21954061
Anmeldetag: 15. Dezember 2021
Veröffentlichung: 23. Februar 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01M11/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shenzhen Institutes of Advanced Technology, Chinese Academy of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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