Scanning Probe Microscope, And Specimen Used in Same

WO2023021867 Art A1 23. Februar 2023

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023021867
Aktenzeichen: EP22858190
Anmeldetag: 4. Juli 2022
Veröffentlichung: 23. Februar 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01Q30/02G01Q60/24G01N21/65G02B21/06

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von