Digital twin with machine learning waveform generation including parameter control for device under test emulation

WO2023023407 Art A1 23. Februar 2023

Anmelder: TEKTRONIX, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023023407
Aktenzeichen: EP22859267
Anmeldetag: 22. August 2022
Veröffentlichung: 23. Februar 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G06N20/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: TEKTRONIX, INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Tektronix, Inc.

US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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