Measurement arrangement, measurement setup, measurement system and method for determining a beamforming characteristic of a device under test
WO2023025403
Art A1
2. März 2023
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023025403
- Aktenzeichen
- EP21766672
- Anmeldetag
- 27. August 2021
- Veröffentlichung
- 2. März 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04B7/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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