Wafer inspection apparatus

WO2023037424 Art A1 16. März 2023

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023037424
Aktenzeichen: EP21956721
Anmeldetag: 8. September 2021
Veröffentlichung: 16. März 2023
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66H01L21/683

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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