Testing apparatus, testing method, and program

WO2023037662 Art A1 16. März 2023

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023037662
Aktenzeichen: EP22866992
Anmeldetag: 18. Mai 2022
Veröffentlichung: 16. März 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26H01L21/66H01L33/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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