Method and apparatus for acquiring feature information of object to be inspected, device, and medium
WO2023056940
Art A1
13. April 2023
Anmelder: NUCTECH COMPANY LIMITED 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023056940
- Aktenzeichen
- EP22877955
- Anmeldetag
- 8. Oktober 2022
- Veröffentlichung
- 13. April 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/04G01N23/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NUCTECH COMPANY LIMITED
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Nuctech
Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.
1.153 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.