Method for determining first and second imaged target features corresponding to a real target feature in a microscopic sample and implementing means

WO2023078530 Art A1 11. Mai 2023

Anmelder: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023078530
Aktenzeichen: EP21805473
Anmeldetag: 2. November 2021
Veröffentlichung: 11. Mai 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/00G06F18/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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