Method for retrieving a target position in a microscopic sample in an examination apparatus using position retrieval information, method for examining and/or processing such a target position and means for implementing these methods

WO2023078532 Art A1 11. Mai 2023

Anmelder: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023078532
Aktenzeichen: EP21805475
Anmeldetag: 2. November 2021
Veröffentlichung: 11. Mai 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G02B21/36G01N1/28G06T7/73G06V10/25

Offizieller Volltext

Abstract

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Firma: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

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